Государственный первичный эталон гэт203-2024



Рег. № эталона:
гэт203-2024
Наименование:
Государственный первичный специальный эталон единицы комплексного показателя преломления и единицы длины в области измерений толщины оптических покрытий
Область измерений:
Оптико-физические измерения (Эллипсометрия, спектрофотометрия, геометрические)
Величина:
Диапазон значений комплексного показателя преломления N=
-ik:
- для действительной части п (показатель преломления) от 0,5 до 5,0;
- для мнимой части k (главный показатель поглощения) от 0,01 до 8,0.
Диапазон значений толщины оптических покрытий d от 1 до 50 000 нм.
Единица:
-
Хранитель:
ВНИИОФИ
Статус:
Действует
Приказ:
№ гэт203-2024 от 05.02.2024
Данные загружены:
03.06.2026 06:00
Источник:
Открыть карточку в ФГИС Аршин

Полная запись

Полная запись Аршина

Состав эталона
Государственный первичный специальный эталон состоит из комплекса следующих технических средств и вспомогательных устройств:
- цифрового спектрального эллипсометра alpha-SE;
- цифрового спектрального многоуглового эллипсометра SENresearch 4,0, модель SER 850-FTIR;
- мер комплексного показателя преломления и толщины оптических покрытий в виде подложек плоской или цилиндрической формы из различных материалов с однослойными или двухслойными покрытиями разной номинальной толщины из разных материалов, а также массивные заготовки из различных материалов – как материальных носителей единицы комплексного показателя преломления и единицы длины в области измерений толщины оптических покрытий;
- термогигрометра ИВА-6 для измерений температуры, атмосферного давления и влажности воздуха в зоне измерений;
- системы сбора и обработки измерительной информации на базе персональной ЭВМ.
Область применения
Измерения комплексного показателя преломления N=
-ik и, соответственно, оптических постоянных n и k тонкопленочных структур, представляющих собой комбинации тонких металлических, диэлектрических и полупроводниковых слоев (пленок) на поверхности полупроводникового кристалла или изолятора. Бесконтактные измерения толщины d оптических покрытий в широком диапазоне от нанометров до десятков микрометров на цифровом спектральном многоугловом эллипсометре SENresearch 4,0, обладающем сканирующим Фурье-спектрометром в ИК диапазоне длин волн (FTIR-приставка). Контроль технологических параметров (толщина, композиция состава, величина шероховатости) в полупроводниковой микро- и наноэлектронике, в рентгеновской оптике, оптике интерференционных покрытий, включающих слои диэлектриков, полупроводников и металлов. Комплексный показатель преломления необходимо измерять и учитывать при интерференционных измерениях высоты рельефа и/или толщины в нанометровом диапазоне.
Основные области применения – микроэлектроника, физика твердого тела, физика поверхности, материаловедение, технология оптических покрытий, химия полимеров и электрохимия, биология, медицина.
Сервисные категории
Нет
Межаттестационный интервал
5 лет

Документы

Приказ
Приказ Росстандарта № 294 от 05,02,2024
Поверочная схема
ГПС введенная ГОСТ 8,645 - 2014 пересматривается. ГСИ. Государственная поверочная схема для средств измерений комплексного показателя преломления.
Техническая документация
- Паспорт эталона
- Правила содержания и применения эталона
- Приказ об утверждении эталона
- Доклад Росстандарту
- Техническая, конструкторская и эксплуатационная документация
- Государственная поверочная схема
Публикации
Нет

Куратор и международные сведения

Куратор
Самойленко Алексей Андреевич, к. ф.-м. н.
Email
asamoylenko@vniiofi.ru
Телефон
(495) 781 45 76
Сравнения CIPM
Нет
Следующие сравнения
Нет
Публикации CIPM
Нет

Приказы Росстандарта по эталону


История загруженных версий

Загружено Текущая Приказ Хранитель Статус
02.06.2026 13:28 да № гэт203-2024
05.02.2024
ВНИИОФИ Действует